基礎信息Product information
產(chǎn)品名稱:
顱內(nèi)壓無創(chuàng)檢測分析儀
產(chǎn)品型號:MICP-KZ10A、MICP-KZ20A
廠商性質(zhì):經(jīng)銷商
所在地:重慶市
更新時間:2023-10-20
產(chǎn)品簡介:
顱內(nèi)壓無創(chuàng)檢測分析儀由腦電極、電極針、眼罩、分析儀主機、液晶顯示屏和分析儀軟件組成。適用于顱腦外傷、腦積水、腦出血、腦膜炎等神經(jīng)系統(tǒng)疾病引起顱內(nèi)壓增高的輔助檢測。
產(chǎn)品特性Product characteristics
顱內(nèi)壓無創(chuàng)檢測分析儀是一種利用FVEP的原理反映顱內(nèi)壓改變的儀器。
產(chǎn)品資料
無創(chuàng)顱內(nèi)壓監(jiān)測儀
閃光視覺誘發(fā)電位是臨床理論研究早期、最完善的一種皮層誘發(fā)電位。它是由彌散的非模式的閃光對視網(wǎng)膜刺激所引起的大腦皮層(枕葉)的電位變化。FVEP反映了從視網(wǎng)膜到枕葉皮視覺通路的完整性。視覺通路位于腦底部,視神經(jīng)纖維向前向后貫穿全腦,自額葉底部穿過頂葉及顳葉到達枕葉,行程較長,所以顱內(nèi)發(fā)生病變時常常會影響視神經(jīng)功能障礙,從視網(wǎng)膜光刺激到大腦枕葉視覺電位的改變,在一定程度上反映了顱內(nèi)的生理病理變化。當顱內(nèi)壓ICP持續(xù)增高時,易產(chǎn)生視通路神經(jīng)損害,神經(jīng)元及纖維缺血缺氧,代謝障礙,神經(jīng)電信號傳導阻滯,閃光視覺誘發(fā)電位波峰潛伏期延長。我們利用FVEP的這一原理來反映顱內(nèi)壓的改變
適用范圍
顱內(nèi)壓無創(chuàng)檢測分析儀適應癥:該產(chǎn)品適用于顱腦外傷、腦積水等神經(jīng)外科疾病和腦出血、腦膜炎等神經(jīng)內(nèi)科疾病引起顱內(nèi)壓增高的檢測。
患者有下列情況,慎用該產(chǎn)品:(1)垂體瘤壓迫雙側(cè)視覺通路者;(2)明顯肝功能損害(腹水、嚴重低蛋白血癥、黃疸);(3)尿毒癥;(4)嚴重酸中毒;(5)嚴重白內(nèi)障、青光眼、視神經(jīng);(6)眼球或視神經(jīng)外傷等明顯影響視力者(7)癲癇發(fā)作期。
注意事項:在應用該儀器之前,醫(yī)師應對有關的環(huán)境條件及檢測對象加以控制,盡量保持檢測結(jié)果的有效性、準確性和可重復性。另外應注意進行顱內(nèi)壓檢測之前不宜使用麻醉劑和脫水劑。
技術參數(shù)
測試誤差:≤10%
檢測時間:≤1分鐘
重復性:CV≤2%